氧化物通常使用氟碳基等离子体进行刻蚀,这依赖于化学改性与物理离子轰击之间的精细平衡 [P1]。
在 40nm BSI CMOS 图像传感器制造流程中,键合焊盘(bond pads)需要通过复杂的后段工艺(BEOL)介质叠层进行深槽刻蚀,以露出下方的金属焊盘 [P3]。该刻蚀过程依次穿过交替的块状氧化物(ILD x-2)和薄 SiCN 刻蚀停止层(ILD x-1)[P1]。在去除 ILD 6 层后,ILD 5-2 氧化物刻蚀专门针对第 5 金属层的块状 SiO₂,使槽孔精确停止在下方的 ILD 5-1 SiCN 层上 [P1]。
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