密度更高的薄膜在化学辅助机械去除过程中表现出更可预测且更均匀的去除速率,在使用基于氧化铈的研磨液时,能确保对氮化硅停止层的高选择性 [P1]。
CMP前氧化物沉积步骤紧随初始保形浅沟槽隔离(STI)填充及其后续退火工艺之后 [P1]。尽管先前的保形层能够保护沟槽界面并确保高质量的介质接触,但它会留下非平面的形貌以及沟槽内潜在的中心缝隙 [A3]。 “CMP前氧化物沉积”应用一层块体介质,通常称为覆盖层(overburden),这对于为随后的化学机械平坦化(CMP)步骤提供足够的材料厚度至关重要 [P1]。这确保了抛光垫在到达底层的氮化硅停止层之前,能够完全平坦化不同图案密度区域的表面 [P2]。
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