40nm BSI CMOS Image Sensor预览

Ta-Barrier etch

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Ashing & Strip/Clean

ILD 6-3 Deposition
245Bond Pad Cavity - Photo246ILD 6-2 Oxide Etch247ILD 6-1 SiCN Etch248ILD 5-2 Oxide Etch249ILD 5-1 SiCN Etch250ILD 4-2 Oxide Etch251ILD 4-1 SiCN Etch252ILD 3-2 Oxide Etch253Ashing & Strip/Clean254Ta-based Bottom Barrier deposition255Metal 7 Al Metal Deposition256Ta-based liner deposition257Pre Litho Cleaning258Metal 7 Bond Pad - Photo259Ta-Barrier etch260Al Metal Etch261Ta-Barrier etch262Ashing & Strip/Clean

工艺截面图

BONDPAD · B18 · Ashing & Strip/Cleangate ox (SiO2, thermal)IO/HV gate ox (SiO2; relative thickness shown schematically; IO device not shown in this cross-section)TiSi (low-temp anneal)n- LDD (31P+, self-aligned)P-pinning (11B+)P+ VSS contact (11B+)FD node (31P+)VT adjust (11B+, periphery channel)SiO2 liner (SACVD)SiO2 (SACVD bulk fill)n+ S/D (31P+)n+ N-well contact (31P+)p+ surface passivation (10B+)Liner SiO2 (RTP thermal)P-well (pixel array, 11B+)P-well (periphery, 11B+)PD N-well (31P+)N-well (periphery, 31P+)SiP-well (implanted region)SiO2CESLAlCuTaPMD 5 (SiO2)PMD 4 (SiO2)MET0 (W)PMD 3 (SiO2 · CMP overburden)W (contact fill)PMD 2 (SiO2 · body segment)TiN (barrier)Ti (adhesion)Ti/TiN linerPMD 1 (SiO2 · bottom segment)CESL 2 (SiNO)SiNCESL 1 (SiN)PolySWS pad ox (SiO2, PECVD)

本步要点

活性氧自由基化学攻击光刻胶的碳骨架,从而形成挥发性副产物,使其能够被去除暴露的金属堆叠。

原理展开

在键合焊盘(bond pad)模块的 Ta 阻挡层刻蚀之后,晶圆表面会残留光刻胶、硬化的刻蚀聚合物以及活性卤素物质 。此灰化(Ashing)和剥离/清洗(Strip/Clean)步骤是必不可少的,用于在后续 ILD 6-3 沉积之前彻底去除这些有机和无机污染物 (工程实践)。与通常清理均匀介质底部的中间通孔清洗(如步骤 #11、#17 或 #32)不同,这一特定步骤必须处理完全暴露的金属堆叠,其中块体铝(bulk aluminum)和底层的钽(Ta)阻挡层均已受到强烈的反应离子刻蚀(RI

E)。若在此阶段无法获得洁净的表面,将导致后续层间介质(ILD)膜的附着力不足,并使残留的卤素引发长期的金属腐蚀失效 。

灰化阶段的主要机制依赖于基于氧的等离子体化学反应来使有机材料挥发 。在等离子体中,高能电子将 O2 气体离解为活性氧自由基,这些自由基会化学攻击光刻胶的碳骨架,从而形成如 CO 和 CO2 等挥发性副产物 。然而,在先前的金属和阻挡层刻蚀步骤中,光刻胶受到了离子的剧烈轰击,并与溅射出的金属和卤素混合,形成了复杂的氟碳或氯碳聚合物外壳 。传统的高温灰化(例如 275°C)会通过驱动热交联和光刻胶硬化加剧这一问题,产生极难去除的富碳残留物 。为了缓解这一问题,通常采用原位(in-situ)低温 O2 等离子体灰化工艺,在平衡自由基反应速率的同时,严格避免聚合物的热降解和硬化 。

在干法灰化之后,执行湿法剥离步骤以溶解残留的金属有机残余物并中和残留的卤素原子 (工程实践)。选择干法灰化与湿法清洗的两步顺序是由刻蚀后缺陷的双重性质决定的 。虽然 O2 等离子体能有效去除块体有机物,但它无法使源自 Al 和 Ta 层的金属残留物挥发 。此外,主刻蚀过程中残留的氯会化学腐蚀暴露的铝侧壁,导致产生由 Al、Cl 以及 F 或 Cu 等其他微量元素组成的金属刻蚀后残留物 。湿法清洗溶剂通常选用胺基化学品或高选择性的专利混合物,其选择标准在于它们能够与这些金属残留物络合,并将其从暴露的特征结构中安全冲洗出去 (工程实践)。

射频(RF)功率、腔室压力和气体比例等工艺参数必须经过严格优化;例如,在刻蚀或灰化过程中过度添加氟碳化合物可能会无意中钝化金属表面,从而从根本上抑制后续湿法清洗溶解和去除残留物的能力 。在 纳米尺度 背照式(BSI)CMOS 图像传感器中,键合焊盘互连的物理尺寸和结构完整性对于高频信号提取至关重要 。这些互连的致密间距放大了微掩膜效应或残留物去除不彻底的影响,这些残留物会表现为不稳定的串联电阻,从而降低器件性能 。在沉积 ILD 6-3 层之前确保界面达到原子级清洁,对于防止湿气渗入和机械应力累积至关重要,否则将损害最终封装和混合集成(hybridization)所需的结构稳定性 。

风险与挑战

  • [High] 聚合物残留硬化:如果灰化(ashing)温度设置过高(例如接近 275°C),光刻胶会发生严重的各种热交联和结构硬化 。这种硬化的富碳聚合物外壳对标准的湿法剥离溶剂具有化学惰性,从而在晶圆上留下大量残留物,物理性地阻碍了后续的 ILD 沉积 。

  • [High] 刻蚀后金属腐蚀:来自上游 Ta 阻挡层和 Al 主刻蚀工艺的残留氯原子在转移至剥离设备或进入湿法槽体过程中,会化学侵蚀暴露的 Al 侧壁 。这种剧烈的腐蚀会产生含 Al、Cl 和 F 的残留物,系统性地降低焊盘(bond pad)的结构完整性和导电性 。

  • [Medium] 表面过度钝化:来自上游刻蚀步骤的过量碳氟化合物(如 CHF₃ 或 CF₄)会在金属表面形成一层致密且化学稳定性强的钝化层 。这种高度钝化的表面会降低后续湿法剥离溶液的化学作用,导致其溶解和去除底层含 Al 残留物的能力显著下降 。

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