通过调节注入能量,工程师可以创建一种逆行掺杂分布(retrograde doping profile),其特点是衬底深处的掺杂浓度较高,而表面附近的浓度较低 [P1]。
在CMOS图像传感器的制造流程中,像素阵列P-Well离子注入(IIP)步骤紧随N-型光电阴极注入及相关的光刻工艺之后 [P3]。该步骤引入p-型掺杂剂,以形成容纳像素有源读出组件(如复位晶体管和源极跟随器)的基础阱结构 [T2]。对于有源像素传感器而言,至关重要的是,深P-Well在P-型外延层与无关的N-Well之间建立了一个静电屏蔽层 [P3]。
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