设备偏置电压需经过精心调节,以提供足够的定向能量来实现各向异性,同时避免导致沟槽底部的灾难性物理溅射或降低剩余键合介质的表面特性 [P4]。
在40nm BSI CMOS图像传感器中,3D异构集成高度依赖直接键合互连(DBI)技术来实现传感器阵列与逻辑芯片的连接 [P2]。ILD 6-5刻蚀步骤是一项关键的后段工艺(BEOL)干法刻蚀工艺,旨在为后续的Metal 8 DBI焊盘定义介质沟槽 [A2]。该步骤位于晶圆键合层(WBL)刻蚀之后,将光刻定义的沟槽图案选择性地深蚀刻至体ILD 6介质堆叠中 [A2]。
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