延长的表面扩散时间使前驱体能够在最终网络交联之前适应底层拓扑结构,从而确保优异的阶梯覆盖率和均匀的薄膜厚度 [P2]。
ILD 3-2 沉积步骤在 ILD 3-1 基础层之后,用于形成 Metal 3 / Via 3 (M3/V3) 互连层级的上部层间介质层 [A1]。在先进的后段工艺 (BEOL) 互连集成中,介质堆叠通常被划分为用作通孔介质的第一介质层 (ILD 3-1) 和随后沉积的用作沟槽介质的第二介质层 (ILD 3-2) [A2]。这种双层方案允许后续的 Via 3 和 Metal 3 沟槽进行独立的深度控制图案化,这通常借助于中间的刻蚀停止层来实现 [A2]。
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