ILD 6-5沉积在低温下形成致密的非晶碳氮化硅或氮化硅薄膜,以防止下方互连结构的热降解并确保高耐湿法刻蚀性 [P3]。
在40nm BSI CMOS图像传感器的后段工艺(BEOL)流程中,多层ILD 6堆栈作为直接键合互连(DBI)焊盘的基础集成平台(工程实践)。在早期本体low-k层(ILD 6-3和6-4)沉积及灰化后清洗完成后,ILD 6-5被沉积以作为致密的密封阻挡层和结构支撑层(工程实践)。该层为后续的ILD 6-6晶圆键合层(WBL)沉积以及关键的METAL 8 DBI焊盘沟槽光刻工艺做好准备 [P3]。
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