在下层片上微透镜结构上沉积SiO₂或氮氧化硅作为平坦化层,以实现均匀的CMP加工并防止光学干扰 [A2]。
在40nm BSI CMOS图像传感器工艺流程中,Optical Pad 3沉积步骤作为下层片上微透镜(OCL)结构之上的关键介质封装层和平坦化层 [A2]。虽然Optical Pad 1和2通常作为基础抗反射层或遮光栅格的初始间隙填充层,但Optical Pad 3专门沉积在已完成的下层OCL之上,旨在为顶层集成建立平坦的光学基准 (工程实践)。该沉积工艺必须完全覆盖下方的形貌,以为后续的Optical Pad 3 CMP步骤做好准备 [P3]。
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