光刻胶被图案化以阻挡保护区域的离子注入,同时允许掺杂剂进入暴露的硅区域,形成定义的浓度分布 [T2]。
像素阵列 P-Well IIP(光刻步骤)是一项关键的光刻操作,旨在为有源图像传感器阵列中后续的 P-Well 离子注入定义空间边界 [T2]。该步骤位于光电阴极形成之后、阱注入之前,用于曝光特定区域,以便引入 P 型掺杂剂来形成像素晶体管的主体及相邻光电二极管之间的隔离区 [P2]。与针对标准逻辑 CMOS 阈值电压控制进行优化的外围 P-Well 光刻不同,像素阵列 P-Well 是专门定制的,旨在最大化源极跟随器的转换增益并抑制横向电荷扩散 [P2]。
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