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工艺图解

晶体管与隔离

侧墙回刻:覆盖、去除与保留 — 第107步后 · 栅旁侧墙栅硅侧墙
侧墙回刻 · 28nm

侧墙是怎么只留在栅两边的?

看水平膜怎样被去除,侧面膜怎样保留为侧墙。

看侧墙如何形成
STI:沟槽刻蚀、衬垫氧化与介质填充 — 第18步 · 氧化物填充Si介质填充衬垫
STI · 28nm

硅里的隔离沟槽是怎么形成的?

从掩膜开口到氧化物填充,看懂隔离结构的形成。

看沟槽如何形成
FCVD:STI衬垫、介质填充与CMP — 第37步 · 氧化物CMPSi介质填充衬垫
FCVD · 14nm

衬垫、填充和CMP各起什么作用?

薄层保护界面,介质填满沟槽,CMP处理表面余量。

对照三道工序
替换金属栅:高k介质、临时栅与最终电极 — 第167步 · 最终栅CMP金属电极Si
替换金属栅 · 28nm

金属栅是如何替换临时栅的?

看临时硅栅去除、栅腔形成与最终电极的保留。

看临时栅如何被替换

接触与互连

铜双镶嵌:通孔、线槽与CMP — 第224步 · 铜CMP后M2V1M1介质
铜互连 · 28nm

铜互连是怎么形成的?

看铜如何填入通孔和线槽,再由CMP分隔线路。

看填铜与CMP
自对准接触:硬掩膜、开口与钨填充 — 第194步 · 钨填充后CMP钨填充介质底部端子简化
自对准接触 · 14nm

从开孔到填钨,接触是怎么做的?

从硬掩膜到钨CMP,认识接触加工的关键阶段。

看接触加工过程
LELE:两次曝光与图形转移 — 第319步 · 组合开口刻蚀E1 已记录E2下层材料
LELE图形化 · 7nm

第二次曝光时,第一次的图形去了哪里?

追踪第一轮图形的保存,以及两组开口的形成。

追踪两轮图形

图像传感器

像素结区:光电二极管、FD与表面钉扎 — 第99步 · 表面p型钉扎区PD (n)FD (n)TGp型钉扎区p型硅
像素结区 · 40nm

PD、FD和钉扎区在像素中做什么?

认识收集电荷、感测电压和控制表面的三个区域。

认识像素中的三个区域
背面集成:晶圆键合、减薄与钝化 — 第307步 · 背面AlO沉积CIS背面钝化层正面互连另一侧晶圆
背面集成 · 40nm

背面减薄前,为什么要先键合?

先获得支撑,再减薄硅,最后进行背面钝化。

看键合、减薄与钝化
像素光学:滤色层、平坦基底与微透镜 — 第378步 · 微透镜回流微透镜滤色层
像素光学 · 40nm

滤色层和微透镜各有什么用?

看滤色图形、平坦基底和透镜曲面怎样依次形成。

看像素上方的光学叠层

进阶课件

深入比较工序依赖、材料与路线。随对应节点开放,已购用户可直接进入。

28nm · 进阶课件正在确认权益…

STI工序为什么要按这个顺序进行?

分析沟槽刻蚀、去胶、清洗、衬垫氧化与填充的先后关系。

14nm · 进阶课件正在确认权益…

SOG、SOC与FCVD有什么不同?

比较SOG、SOC与FCVD的材料类型、成膜方式和后处理目标。

28nm · 进阶课件正在确认权益…

先孔还是先槽,下一步会接收到什么?

比较通孔先行与线槽先行路线,理解临时填充和后续金属化的关系。