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看清完整工艺流程 —— 每一步,都 读懂为什么

完整的 40nm→7nm 工艺流程 —— 每一步都配 2.5D 截面图,还能沿真实顺序问 AI;证据覆盖时可核对论文、专利与教科书来源。

工艺流程可视化

真实 40nm 工艺起点 BSI CIS cross-section — Bayer RGGB, bonded CIS wafer, and ISP interconnect

4 个工艺节点 · 40nm→7nm · 2.5D 截面图

  • 逐步导航完整工艺流程
  • 每一步配 2.5D 工艺截面图
  • 原理解析 + 引用溯源

真实 40nm 工艺起点

Wafer In

40nm · 步骤 1 · 晶圆准备

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真实 FLOW 回答示例

28nm · AA

AA 非晶碳沉积为什么位于衬垫层与减反射层之间?

前序衬垫氧化层与氮化层先隔离并保护硅表面,非晶碳随后提供可消耗的硬掩膜主体。其上的无氮减反射层与盖层再控制光学界面并承接光刻,使图形转移同时保持反射控制、刻蚀选择性和基底保护。

PROCESS TRAVELER · 工艺行程单

28nm Planar Flow28nm

STEP 003 / 266
当前步骤AA Amorphous Carbon Deposition
上一步AA Pad Nitride Deposition下一步AA N-free DARC Deposition

上方顺序来自已发布 28nm Flow 的匿名预览步骤。真实回答只有在检索证据覆盖问题时才显示引用与证据覆盖状态,不用虚构文献填满示例。

带着你的问题进入 AI 问答

SemiFlows 如何帮助你理解工艺?

流程可视化、来源追溯与机制分析,围绕每个工艺步骤协同呈现

完整工艺流程可视化

1,700+ 步完整流程(40nm CIS / 28nm / 14nm / 7nm)逐步导航,每个节点都用 2D 工艺截面图呈现材料堆叠的形成过程

专业语料库 + 引用溯源

问答检索精选的论文、专利与教科书,并用 [T1][P2][A3] 标注引用,可展开书目信息与可用摘要核对

机制感知 AI 引擎

结合当前步骤的工艺类型、功能角色与前后流程上下文,解释物理化学机制和集成逻辑

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两条并行的产品线,自由组合:工艺流程节点(一次性·终身)+ AI 深度问答(按需订阅,含免费档)

一次性 · 终身

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$149
  • 362 步 FinFET 工艺流程
  • 每步含原理解析与风险分析
  • 论文/专利引用溯源
  • 多重图案化 + MOL 集成
  • 每步配套 2.5D 工艺截面图,逐步还原物理结构演化
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$349
  • 714 步先进工艺流程
  • 每步含原理解析与风险分析
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常见问题

关于 SemiFlows 平台的常见问题解答

SemiFlows 是一个 AI 驱动的半导体工艺知识平台,提供完整的逐步工艺流程,覆盖 40nm 至 7nm 技术节点,包括逻辑芯片和 CMOS 图像传感器。平台整合了海量学术论文、专利和权威教科书,为每个工艺步骤提供深度原理解析与引用溯源。40nm BSI CIS 流程完全免费开放。

SemiFlows 目前覆盖四个工艺流程:40nm BSI CMOS Image Sensor(417 步,免费)、28nm Planar(266 步)、14nm FinFET(362 步)和 7nm FinFET(714 步)。这些流程共计超过 1,700 个详细工艺步骤,涵盖逻辑芯片和图像传感器两大领域的完整工艺集成。

SemiFlows 专为半导体工艺学习与研究构建。平台将结构化工艺流程、逐步截面图、物理化学机制解释和可追溯的论文与专利引用放在同一学习路径中,并结合当前步骤与前后流程上下文回答问题。

SemiFlows 提供每个工艺步骤背后的物理和化学原理、机制解释(工艺为何有效)、集成逻辑(步骤为何如此排序)以及风险分析。所有内容聚焦于基本原理 —— 不涉及具体的制造配方、设备参数或供应商细节。

是的。SemiFlows 支持英文和中文。用户可以随时通过语言切换按钮切换语言。AI 聊天助手也会以用户选择的语言进行回答。

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