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理解从 DUV 到 EUV 的光学光刻原理。涵盖分辨率极限、多重图案化策略(SADP/SAQP)、光刻胶化学,以及波长缩短如何驱动晶体管密度微缩。

2 篇文章
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相关工艺流程

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技术博客

深入了解半导体制造工艺的物理原理与集成逻辑

光刻2026年3月29日5 分钟阅读

半导体制造中的光刻技术:物理学、原理及工艺演进

简介 光刻被公认为现代集成电路 (IC) 制造的基石 T2。在硅衬底上打印亚微米和纳米级特征图案的基本能力,造就了当今先进的电子设备 T2。该图案化工艺的概念原则上非常简单:将一种光敏聚合物(即光刻胶)涂覆在晶圆表面 T2。然后,通过光掩模版将该光刻胶选择性地暴露于光源下,从而将几何图案信息转移到晶圆上 T2。在实际的

光刻2026年3月15日5 分钟阅读

极紫外光刻:原理、物理学与亚5nm半导体制造之路

介绍:什么是极紫外光刻及其为何重要 P3? 在追求更小、更快、更能效的半导体器件的不懈努力中,光刻一直是进步的节拍器 T1。极紫外(EUV)光刻代表了光学图形化历史上最重要的波长飞跃——从193 nm深紫外(DUV)时代转向13.5 nm的波长,这是超过一个数量级的缩减 P3。这种曝光波长的戏剧性缩短不仅仅是增量式的改

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